Universal-Probenschneider Konfigurierbar für mehrere Testtypen, z. Reibung, Flächengewicht, Abrieb Geeignet für Film/Folien, Papier etc. Genauigkeit unabhängig vom Bediener Wiederholbar, zeitsparend Mehr anzeigen
Universal-Reibungstester (UFT)Statisch und dynamisch (COF) Schnelle, wiederholbare Messungen Beinhaltet Schäl-, Reiß- und Siegelfestigkeitstests Gleitfähigkeit und Reibung FAQs Mehr anzeigen
Hanatek Rill- und Biegesteifigkeitsprüfgerät (CBT1) nach PIRA Rill-/Falzverhalten (90°): BS 6965 Biegesteifigkeit: ISO 2493 Sofortige Anzeige des Verhältnisses von Rill- und Biegesteifigkeit Mehr anzeigen
Hanatek Präzisions-Dickenmessgerät (FT3) Zur präzisen Bestimmung der Dicke Wiederholbarkeit besser als 0,4 µm Werksseitig konfiguriert nach ausgewählter Norm Vom Benutzer definierbare Anzahl von Messwerten, Verweilzeit und Absenkgeschwindigkeit Mehr anzeigen
Hanatek Karton Universal-Kraftmessgerät (CFA) Messung aller Kräfte, die zum Aufstellen von Kartons erforderlich sind Falzfestigkeit (Springback), Biegesteifigkeit, Karton-Öffnungskraft, Falz-Öffnungskraft, Verhältnis Rill- und Biegesteifigkeit, Faltfaktor Unterschiedliche Probengrößen und kleinste Rill-/Falzgröße Mehr anzeigen
Hanatek Abrieb- und Scheuerfestigkeitstester (RT4) Beurteilung der Eignung von Beschichtungen und Substraten Testen Sie die Abriebfestigkeit von bedrucktem Material nach BS3110 Option: Nassabriebtest / Beständigkeit gegenüber Wasser, Lösungsmittel u.a. Option: Scheuerfestigkeitstest / Kratztest Mehr anzeigen
Hanatek Universal-Probenschneider (USC) Konfigurierbar für viele Testtypen, z.B. Reibung, Flächengewicht. Abrieb Geeignet für Film/Folien, Papier etc. Gleiche Genauigkeit unabhängig vom Bediener Wiederholbar, zeitsparend Mehr anzeigen
Hanatek Präzisions-Dickenmessgerät mit variablem Anpressdruck (FT3-V) Variable Präzisions-Dickenmessung durch Hinzufügen von externen Gewichten Beispielkonfigurationen umfassen ISO 534 / TAPPI T411 (Papier und Karton), ASTM D6988 (Film, standard & low pressure) 0,1 µm Auflösung, Wiederholbarkeit besser als 0,4 µm Vom Benutzer definierbare Anzahl von Messwerten, Verweilzeit und Absenkgeschwindigkeit Mehr anzeigen
