Universal-Probenschneider Konfigurierbar für mehrere Testtypen, z. Reibung, Flächengewicht, Abrieb Geeignet für Film/Folien, Papier etc. Genauigkeit unabhängig vom Bediener Wiederholbar, zeitsparend Mehr anzeigen
Novo-Shade Duo + Helligkeit-, Opazitäts- und Sauberkeitsmessgerät Opazität messen (Deckvermögen) Misst Helligkeit auf Graustufen Geeignet zum Messen von Beschichtungen oder Kunststofffolien Warum ein Novo-Shade Duo+ und kein Spektrophotometer kaufen? Mehr anzeigen
Universal-Reibungstester (UFT)Statisch und dynamisch (COF) Schnelle, wiederholbare Messungen Beinhaltet Schäl-, Reiß- und Siegelfestigkeitstests Gleitfähigkeit und Reibung FAQs Mehr anzeigen
Hanatek Präzisions-Dickenmessgerät (FT3) Zur präzisen Bestimmung der Dicke Wiederholbarkeit besser als 0,4 µm Werksseitig konfiguriert nach ausgewählter Norm Vom Benutzer definierbare Anzahl von Messwerten, Verweilzeit und Absenkgeschwindigkeit Mehr anzeigen
Hanatek Abrieb- und Scheuerfestigkeitstester (RT4) Beurteilung der Eignung von Beschichtungen und Substraten Testen Sie die Abriebfestigkeit von bedrucktem Material nach BS3110 Option: Nassabriebtest / Beständigkeit gegenüber Wasser, Lösungsmittel u.a. Option: Scheuerfestigkeitstest / Kratztest Mehr anzeigen
Hanatek Universal-Probenschneider (USC) Konfigurierbar für viele Testtypen, z.B. Reibung, Flächengewicht. Abrieb Geeignet für Film/Folien, Papier etc. Gleiche Genauigkeit unabhängig vom Bediener Wiederholbar, zeitsparend Mehr anzeigen
Hanatek Präzisions-Dickenmessgerät mit variablem Anpressdruck (FT3-V) Variable Präzisions-Dickenmessung durch Hinzufügen von externen Gewichten Beispielkonfigurationen umfassen ISO 534 / TAPPI T411 (Papier und Karton), ASTM D6988 (Film, standard & low pressure) 0,1 µm Auflösung, Wiederholbarkeit besser als 0,4 µm Vom Benutzer definierbare Anzahl von Messwerten, Verweilzeit und Absenkgeschwindigkeit Mehr anzeigen
Hanatek Präzisions-Dickenmessgerät (LAB) Dickenmessgerät für Laboreinsatz Erreichen Sie die Einhaltung mehrerer Standards Wiederholbarkeit besser als 0,4 µm Vom Benutzer programmierbare Anzahl von Messwerten, Verweilzeit und Abwärtsgeschwindigkeit Mehr anzeigen
