Universal-Probenschneider
- Konfigurierbar für mehrere Testtypen, z. Reibung, Flächengewicht, Abrieb
- Geeignet für Film/Folien, Papier etc.
- Genauigkeit unabhängig vom Bediener
- Wiederholbar, zeitsparend
Papier
Novo-Shade Duo + Helligkeit-, Opazitäts- und Sauberkeitsmessgerät
- Opazität messen (Deckvermögen)
- Misst Helligkeit auf Graustufen
- Geeignet zum Messen von Beschichtungen oder Kunststofffolien
- Warum ein Novo-Shade Duo+ und kein Spektrophotometer kaufen?
Universal-Reibungstester (UFT)
- Statisch und dynamisch (COF)
- Schnelle, wiederholbare Messungen
- Beinhaltet Schäl-, Reiß- und Siegelfestigkeitstests
- Gleitfähigkeit und Reibung FAQs
Hanatek Präzisions-Dickenmessgerät (FT3)
- Zur präzisen Bestimmung der Dicke
- Wiederholbarkeit besser als 0,4 µm
- Werksseitig konfiguriert nach ausgewählter Norm
- Vom Benutzer definierbare Anzahl von Messwerten, Verweilzeit und Absenkgeschwindigkeit
Hanatek Abrieb- und Scheuerfestigkeitstester (RT4)
- Beurteilung der Eignung von Beschichtungen und Substraten
- Testen Sie die Abriebfestigkeit von bedrucktem Material nach BS3110
- Option: Nassabriebtest / Beständigkeit gegenüber Wasser, Lösungsmittel u.a.
- Option: Scheuerfestigkeitstest / Kratztest
Hanatek Universal-Probenschneider (USC)
- Konfigurierbar für viele Testtypen, z.B. Reibung, Flächengewicht. Abrieb
- Geeignet für Film/Folien, Papier etc.
- Gleiche Genauigkeit unabhängig vom Bediener
- Wiederholbar, zeitsparend
Hanatek Präzisions-Dickenmessgerät mit variablem Anpressdruck (FT3-V)
- Variable Präzisions-Dickenmessung durch Hinzufügen von externen Gewichten
- Beispielkonfigurationen umfassen ISO 534 / TAPPI T411 (Papier und Karton), ASTM D6988 (Film, standard & low pressure)
- 0,1 µm Auflösung, Wiederholbarkeit besser als 0,4 µm
- Vom Benutzer definierbare Anzahl von Messwerten, Verweilzeit und Absenkgeschwindigkeit
Hanatek Präzisions-Dickenmessgerät (LAB)
- Dickenmessgerät für Laboreinsatz
- Erreichen Sie die Einhaltung mehrerer Standards
- Wiederholbarkeit besser als 0,4 µm
- Vom Benutzer programmierbare Anzahl von Messwerten, Verweilzeit und Abwärtsgeschwindigkeit
